Продажа оборудования и приборов для контроля кaчества и исследования материалов
komef@komef.ru
(495) 916-1173
(495) 916-1594
(495) 916-1867

 

Обратная связь

Обратная связь

Ваше сообщение было успешно отправлено

Анализаторы теплопроводности. Неразрушающий контроль.

C-ThermTechnologies (Галифакс, Канада) – молодая компания, которая была создана в 2007 году в Канаде. Развитие компании началось с серийного выпуска оборудования для неразрушающего термического анализа и контроля качества материалов. Выпустив на рынок портативный анализатор теплопроводности TCi™, компания C-ThermTechnologies прочно закрепилась в рядах производителей аналитического оборудования. TCi™ - уникальный прибор, который позволяет очень быстро проводить анализ самых различных материалов и субстанций и, получения следующих характеристических свойств:

  • теплопроводность

  • тепловая эффузия

  • тепловая инерция

TCi™ позволяет наглядно контролировать следующие технологические параметры:

  • однородность

  • расслоение

  • отклонения в серии

Выпускаемое оборудование и успехи компания C-ThermTechnologies во внедрении своих разработок, были высоко оценены специалистами, о чем свидетельствует премия ManningAward. Инновации C-ThermTechnologies позволили компании войти в список топ 100 R&D производителей в мире!

Сенсорный тестер Tx Effusivity Touch Tester

Сенсорный тестер Tx Effusivity Touch Tester

 

 

Tx Effusivity Touch Tester использует метод модифицированного источника переходной плоскости (MTPS). Односторонний межфазный датчик отражения тепла прикладывает к образцу мгновенный…
Подробнее>
Анализатор теплопроводности Trident

Анализатор теплопроводности Trident

 

 

Анализатор теплопроводности на платформе Trident позволяет проводить испытания на теплопроводность широкого спектра твердых веществ, жидкостей, порошков и паст. Система C-Therm…
Подробнее>
Дилатометр DiL

Дилатометр DiL

 

 

Дилатометр серии фирмы C-Therm – хорошее дополнение к анализатору теплопроводности, позволяющий получать информацию об изменении линейных размеров образцов в ходе…
Подробнее>